Electrical and Electronic Engineering Electrical and Electronic EngineeringダブルゲートナノMOSFETバンド構造を導入した場合の D- D特性IV18設計・試作チップ 測定環境半導体ナノデバイスのシミュレーションリポート回路技術により劣化を抑制できることを実測して検証していますリポート電子デバイス工学講座講師 岸田 亮電子デバイス工学講座准教授岩田 栄之測定用回路基板測定結果自動車、航空機などに使われる機器では人命に関わるため、機器の故障や不具合をなくす必要があります。システムの要でもある集積回路を、回路設計技術を使って高信頼なシステムを実現させます。同じ動作をする回路でも、素子の配線や動作条件を変更することで、劣化しにくく高信頼な回路を実現させてきました。回路の設計、シミュレーション、試作、測定まで一貫して行っています。また、量子コンピュータが従来よりも高速に計算できるため注目されていますが、原理的に信頼性が高くないことが懸念されているため、回路技術によって高信頼性を実現させようとしています。現在最先端の半導体集積回路（LSI）では、数億、数十億の基本トランジスタから構成されています。本研究室では、このような基本トランジスタの超微細化を見据えた数値シミュレーション技術の研究を行っています。半導体デバイスシミュレーションでは、新デバイス開発の期間とコストの削減とともに、実測では不可能なデバイス内部の物理現象の解明を目標としています。本研究室ではとくに、量子力学的な効果が無視できないほど微細化された基本トランジスタの物理モデルと数値シミュレーションに関する研究を行っています。また、超微細化に対応した新奇構造のトランジスタや高効率化を目指した太陽電池のシミュレーションにも取り組んでいます。自ら作った回路を測定まで一貫して行えますその他の研究・ナノMOSFETの3次元量子輸送解析モデルの構築・半導体材料におけるバンド構造の高精度計算2122集積回路トランジスタと新奇半導体デバイスの物理とシミュレーション研究分野集積回路、電子回路、信頼性、経年劣化、量子コンピュータ研究内容私の研究のポイント研究分野半導体デバイス工学、半導体デバイスシミュレーション研究内容私の研究のポイント高信頼なシステムに向けた集積回路の設計と評価
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